新聞中心
為您及時(shí)傳遞世家儀器最新要聞動(dòng)態(tài)、企業(yè)文化及產(chǎn)品技術(shù)資訊
Keithley 2450 SourceMeter® SMU:觸控時(shí)代的高精度測(cè)試革新
2025-06-07
Keithley 2450 SourceMeter? SMU:觸控時(shí)代的高精度測(cè)試革新
一、產(chǎn)品定位與核心突破
作為泰克旗下 Keithley 第四代源測(cè)量單元(SMU),2450 是首款集成 電容式觸控屏 的高性能儀器,專(zhuān)為解決現(xiàn)代電子測(cè)試中日益復(fù)雜的用戶(hù)需求而生。其核心定位為:
多學(xué)科通用工具:適用于半導(dǎo)體、納米材料、生物傳感器、電化學(xué)等領(lǐng)域的電流 / 電壓(I-V)特性測(cè)試。
效率提升利器:通過(guò)直觀(guān)交互與高速數(shù)據(jù)處理,縮短測(cè)試周期,降低培訓(xùn)成本,尤其適合預(yù)算緊縮或需快速上手的科研與工業(yè)場(chǎng)景。
二、觸控交互:重新定義測(cè)試體驗(yàn)
2450 的顛覆性創(chuàng)新集中于 5 英寸全彩觸控屏 與 扁平化菜單設(shè)計(jì):
“所見(jiàn)即所得” 操作:
圖標(biāo)化主界面(如 “Source”“Measure”“Views” 等)將常用功能可視化,配置步驟較傳統(tǒng)按鍵儀器減少 50% 以上(例如創(chuàng)建 I-V 掃描僅需 2 步,對(duì)比競(jìng)品需 6 層菜單)。
觸控屏支持 滑動(dòng)、縮放、多點(diǎn)操作,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量曲線(xiàn)、參數(shù)列表及狀態(tài)信息(如量程、電流限制),數(shù)據(jù)可讀性提升 300%。
混合交互兼容:
保留物理旋鈕與按鍵,支持盲操作或手套環(huán)境使用,兼顧資深工程師對(duì) tactile feedback 的需求。
內(nèi)置 上下文幫助系統(tǒng),點(diǎn)擊任意參數(shù)即可觸發(fā)說(shuō)明,減少對(duì)紙質(zhì)手冊(cè)的依賴(lài)。
三、性能參數(shù):精度與速度雙優(yōu)
指標(biāo) | 2450 核心參數(shù) | 競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì) |
---|---|---|
電壓范圍 | 20 mV – 200 V(四象限輸出) | 覆蓋低功耗器件(如納米晶體管)與中壓模塊 |
電流范圍 | 10 nA – 1 A | 納安級(jí)靈敏度適配生物傳感器微弱信號(hào)檢測(cè) |
基本精度 | 0.012%(6? 位分辨率) | 同級(jí)儀器中誤差最低,適合基準(zhǔn)測(cè)試 |
噪聲水平 | 2 mV rms(電壓測(cè)量) | 比前代 2400 降低 50%,提升弱信號(hào)信噪比 |
數(shù)據(jù)緩沖區(qū) | >250,000 點(diǎn) | 支持長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)掃描,避免頻繁數(shù)據(jù)傳輸卡頓 |
通訊接口 | GPIB/USB/Ethernet (LXI) | 支持遠(yuǎn)程控制與多儀器組網(wǎng)(TSP-Link? 擴(kuò)展) |
四、典型應(yīng)用場(chǎng)景
1. 半導(dǎo)體與納米器件測(cè)試
場(chǎng)景:FinFET 閾值電壓測(cè)量、石墨烯晶體管 I-V 特性分析、有機(jī)半導(dǎo)體薄膜導(dǎo)電率表征。
方案:
使用 雙儀器同步模式(搭配另一臺(tái) 2450),同時(shí)施加?xùn)艠O電壓與漏極電壓,同步采集 Drain Current(ID)與 Gate Voltage(VG)數(shù)據(jù)。
觸控屏實(shí)時(shí)顯示曲線(xiàn)族,支持一鍵導(dǎo)出至 Excel 或 LabVIEW 分析。
2. 生物傳感器與電化學(xué)檢測(cè)
場(chǎng)景:BioFET 生物芯片檢測(cè)、酶電極電流響應(yīng)測(cè)試、電池充放電循環(huán)特性。
方案:
通過(guò) TSP-Link? 連接多臺(tái) 2450,構(gòu)建多通道測(cè)試系統(tǒng),同時(shí)對(duì)多個(gè)傳感器陣列進(jìn)行并行測(cè)試。
利用 I-V Tracer 應(yīng)用程序,實(shí)時(shí)調(diào)整激勵(lì)參數(shù)并觀(guān)察響應(yīng),無(wú)需編寫(xiě)復(fù)雜腳本。
3. 生產(chǎn)測(cè)試與質(zhì)量控制
場(chǎng)景:LED 伏安特性批量檢測(cè)、光伏器件短路電流(Isc)與開(kāi)路電壓(Voc)快速篩查。
方案:
使用 QuickSet 快速模式,一鍵切換至 “電壓表”“電流表” 或 “歐姆表” 模式,單工位測(cè)試效率提升 70%。
通過(guò)以太網(wǎng)接口接入自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),配合 SCPI 指令實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守批量測(cè)量。
五、選型建議:為什么選擇 2450?
用戶(hù)類(lèi)型 | 核心需求 | 2450 適配點(diǎn) |
---|---|---|
科研實(shí)驗(yàn)室 | 高靈活性、低學(xué)習(xí)成本 | 觸控交互降低跨學(xué)科團(tuán)隊(duì)(如生物 / 材料工程師)使用門(mén)檻 |
工業(yè)產(chǎn)線(xiàn) | 高速、高重復(fù)性 | QuickSet 模式與自動(dòng)化接口提升吞吐量 |
資深工程師 | 精準(zhǔn)控制與擴(kuò)展能力 | 物理旋鈕 + 觸控屏混合操作,支持 TSP 腳本深度編程 |
預(yù)算敏感型用戶(hù) | 多功能集成性?xún)r(jià)比 | 一臺(tái)抵多臺(tái)(電源 + 萬(wàn)用表 + 負(fù)載),降低設(shè)備采購(gòu)成本 |
六、行動(dòng)號(hào)召
Keithley 2450 以 “觸控簡(jiǎn)化操作、精度保障數(shù)據(jù)、速度提升產(chǎn)能” 的三重價(jià)值,成為跨領(lǐng)域測(cè)試的理想選擇。無(wú)論是前沿科研中的微弱信號(hào)捕捉,還是產(chǎn)線(xiàn)質(zhì)控中的高速掃描,2450 均能助您突破效率瓶頸。
立即聯(lián)系我們,獲取定制化測(cè)試方案,體驗(yàn)觸控時(shí)代的測(cè)量革新 —— 讓復(fù)雜測(cè)試,觸手可及。